[1]
Рахадилов, .Б. и др. 2020. Захват дейтерия в образцах вольфрама при высоко-температурном плазменном облучении. Eurasian Physical Technical Journal. 17, 2(34) (сен. 2020), 116–122. DOI:https://doi.org/10.31489/2020No2/116-122.