[1]
В. Маликов, А. Ишков, С. Войнаш, Р. Загидуллин, и Л. Сабитов, «Автоматизированный контроль проводимости тонких пленок с использованием вихретокового метода», Eurasian phys. tech. j., т. 21, вып. 1(47), сс. 74–83, мар. 2024.