Айналмалы симметриялы электрстатикалық айналардың тоғыстау сапасына электрод-аралық саңылау енінің әсері.
Авторлар
DOI:
https://doi.org/10.31489/2024No4/149-157Кілт сөздер:
ұшу уақыттық масс-спектрометр, электрондық микроскоп, электрстатикалық айна, кеңістіктік-уақыттық тоғыстау, сфералық аберрация, осьтік хроматикалық аберрацияАңдатпа
Электродтары ені шекті саңылаулармен бөлінген диаметрлері бірдей коаксиалды цилиндрлер болып табылатын айналмалы симметриялы электрстатикалық айналардың тоғыстау сапасына электрод-аралық саңылау енінің әсері зерттелді. Мұндай айналардағы осьтік потенциал таралуының мәндерін дәл сандық есептеуге ыңғайлы формулалар ұсынылған. Алынған формулалар негізінде, электрод-аралық саңылау енін ескере отырып, сандық есептеулер арқылы зарядталған бөлшектер шоғының кеңістіктік тоғысталуымен ұшу-уақыттық хроматикалық аберрацияларды, сфералық және осьтік хроматикалық кеңістіктік аберрацияларды жоюды бір мезгілде қамтамасыз ететін екі және үш электродты айналардың геометриялық және электрлік параметрлері анықталды. Бұл аберрациялар сәйкесінше ұшу-уақыттық масс-спектрометрлердің және электрондық микроскоптардың ажырату қабілетіне әсер ету тұрғысынан ең маңыздылары болып табылады. Цилиндрлік электродты электрстатикалық айналардың тоғыстау сапасына электрод-аралық саңылау енінің айтарлықтай әсер ететіні көрсетілген.
References
Mamyrin B.A. (2001) Time-of-flight mass spectrometry (concepts, achievements, and prospects). Int. J. Mass Spectrometry, 206 (3), 251-266. DOI: 10.1016/S1387-3806(00)00392-4. DOI: https://doi.org/10.1016/S1387-3806(00)00392-4
Wollnik H., Casares A. (2003) An energy-isochronous multi-pass time-of-flight mass spectrometer consisting of two coaxial electrostatic mirrors. Int. J. Mass Spectrometry, 227 (2), 217-222. DOI: 10.1016/S1387-3806(03)00127-1. DOI: https://doi.org/10.1016/S1387-3806(03)00127-1
Yavor M., Verentchikov A., Hasin Y., Kozlov B., Gavrik M., Trufanov A. (2008) Planar multi-reflecting time-of-flight mass analyzer with a jig-saw ion path. Physics Procedia, 1 (1), 391-400. DOI: 10.1016/j.phpro.2008.07.120. DOI: https://doi.org/10.1016/j.phpro.2008.07.120
Spivak‐Lavrov I., Baisanov O., Yakushev E., Nazarenko L. (2019) TOF mass spectrometers based on a wedge‐shaped electrostatic mirror with a two‐dimensional field. Rapid Communications in Mass Spectrometry, 34(4). DOI:10.1002/rcm.8590. DOI: https://doi.org/10.1002/rcm.8590
Bimurzaev S.B., Aldiyarov N. U., Sautbekova Z.S. (2020) High Dispersive Electrostatic Mirrors of Rotational Symmetry with the Third Order Time-of-Flight Focusing by Energy. Technical Physics, 65, 1150–1155. DOI:10.1134/S1063784220070051. DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784220070051
Rempfer G.F. (1990) A theoretical study of the hyperbolic electron mirror as a correcting element for spherical and chromatic aberration in electron optics. J.Appl. Phys., 67 (10), 6027-6040. DOI: 10.1063/1.345212. DOI: https://doi.org/10.1063/1.345212
Preikszas D., Rose H. (1997) Correction properties of electron mirrors. Microscopy, 46 (1), 1-9. DOI:10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023484. DOI: https://doi.org/10.1093/oxfordjournals.jmicro.a023484
Hartel P., Preikszas D., Spehr R., Muller H., Rose H. (2002) Mirror corrector for low-voltage electron microscopes. Adv. Imaging & Electron Phys., 120, 41-133. DOI: 10.1016/S1076-5670(02)80034-9. DOI: https://doi.org/10.1016/S1076-5670(02)80034-9
Hawkes P.W. (2009) Aberration correction past and present. Phil. Trans. R. Soc. DOI: 10.1098/rsta.2009.0004. DOI: https://doi.org/10.1098/rsta.2009.0004
Tromp R.M., Hannon J.B., Wanb W., Berghaus A., Schaff O. (2010) A new aberration-corrected, energy-filtered LEEM/PEEM instrument. I. Principles and design. Ultramicroscopy, 110 (7), 852-861. DOI:10.1016/j.ultramic.2010.03.005. DOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2010.03.005
Tromp R.M., Hannon J.B., Wanb W., Berghaus A., Schaff O. (2013) A new aberration-corrected, energy-filtered LEEM/PEEM instrument. II. Operation and results. Ultramicroscopy, 127, 25-39. DOI:10.1016/j.ultramic.2012.07.016. DOI: https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2012.07.016
Bimurzaev S.B., Aldiyarov N.U., Yakushev E.M. (2017) The objective lens of the electron microscope with correction of spherical and axial chromatic aberrations, Microscopy, 66 (5), 356-365. DOI: 10.1093/jmicro/dfx023. DOI: https://doi.org/10.1093/jmicro/dfx023
Bimurzaev S.B., Serikbaeva G.S., Yakushev Е.М. (2003) Electrostatic Mirror Objective with Eliminated Spherical and Axial Chromatic Aberrations. Microscopy, 52 (4), 365-368. DOI: 10.1093/jmicro/52.4.365. DOI: https://doi.org/10.1093/jmicro/52.4.365
Bimurzaev S.B., Yakushev E.M. (2022) Relativistic Theory of Aberrations of Electrostatic Electron-Optical Systems. Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. A., 1022, 1-10. DOI: 10.1016/j.nima.2021.165956. DOI: https://doi.org/10.1016/j.nima.2021.165956
Zhu X., Munro E. (1995) Second-Order Finite Element Method and its Practical Application in Charged Particle Optics. Journal of Microscopy, 179(2), 172 – 180. DOI: 10.1111/j.1365-2818.1995.tb03629.x. DOI: https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.1995.tb03629.x
Bobykin B.V., Nevinnyi Yu.A., Yakushev E.M. (1975). Electron-optical lens as a preliminary accelerator of slow electrons in beta-spectrometry. Zhurnal Tekhnicheskoi Fiziki, 45, 2368–2372.
Gray F. Electrostatic electron-optics (1939) Bell. Syst. Techn. Journ., 18(1), 1-31. DOI: 10.1002/j.1538-7305.1939.tb00805.x. DOI: https://doi.org/10.1002/j.1538-7305.1939.tb00805.x
Bimurzaev S.B., Bimurzaeva R.S., Sarkeev B.T. (1991) Spatial and time-of-flight focusing in an electrostatic lens-mirror system with two planes of symmetry. Radiotekhnika I Elektronika, 36, 2186–2195.
Yakushev E.M., Sekunova L.M. (1986) Theory of electron mirrors and cathode lenses. Advances in Electronics and Electron Physics, 68, 337–416. DOI: 10.1016/S0065-2539(08)60856-2. DOI: https://doi.org/10.1016/S0065-2539(08)60856-2
Yakushev, E. M. (2013). Theory and computation of electron mirrors: The central particle method. Advances in Imaging and Electron Physics, 178, 147–247. Elsevier. DOI: 10.1016/B978-0-12-407701-0.00003-0. DOI: https://doi.org/10.1016/B978-0-12-407701-0.00003-0
Downloads
Түсті
Өңделді
Қабылданды
Жарияланды
How to Cite
Журналдың саны
Бөлім
License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
