Реал осьті-симметриялы электрстатикалық айналардың траекториялық талдауының FOCUS CPM бағдарламасы: әдістер мен алгоритмдер
DOI:
https://doi.org/10.31489/2022No3/91-96Кілт сөздер:
электрондық оптика, параксиалды оптика, электронды айна, сандық әдістер, траекториялық талдауАңдатпа
Электрондық айналардың қонструктивті ерекшеліктерінің, атап айтқанда электродтар арасындағы саңылаулардың олардың электронды-оптикалық сипаттамаларына әсерін зерттеу есебі шешіледі. Аналитикалық параксиалды және сандық тәсілдердің артықшылықтарын біріктіретін есепті шешу әдісі сипатталған. Жұмыс авторлары әзірлеген және сипатталған әдісті жүзеге асыратын FOCUS CPM бағдарламалық қамсыздану ұсынылады. Үш электродты айна мысалында есептеулердің дәлдігін бағалау жүргізілген. Тоғыс орнының цилиндрлік электродтар арасындағы алшақтық шамасына тәуелділігі есептеліп, талданған.
References
The field and particle trajectory simulator. Industry standard charged particle optics software. Available at: https://simion.com (Apr19, 2022).
CPO “BEM” Charged Particle Optics Simulation Software. Available at: https://www.sisweb.com/software/cpo.htm (Apr19, 2022).
Trubitsyn A., Grachev E., Gurov V., Bochkov I., Bochkov V. CAE «FOCUS» for Modelling and Simulating Electron Optics Systems: Development and Application. Proceedings of SPIE. 2017. Vol. 10250, pp. V-1 – V-7.
Berger C. Design of rotationally symmetrical electrostatic mirror for time-of-flight mass spectrometry. Journal of Applied Physics. 1983. Vol. 54, pp. 3699-3703.
Bimurzaev S., Aldiyarov N., Sautbekova Z. High Dispersive Electrostatic Mirrors of Rotational Symmetry with the Third Order Time-of-Flight Focusing by Energy. Technical Physics. 2020. Vol. 65, pp. 1150–1155.
Trubitsyn A.A. Calculation of the Singular Integrals Arising in the Boundary-Element Method for the Dirichlet Problem. Comp. Maths Math. Phys. 1995. Vol.35, No.4, pp. 421-428.
Burden R.L., Faires J.D. Numerical Analysis. 7th Ed. USA, Boston: Brooks/Cole, 2000, pp. 174-191.
Gurov V.S., Saulebekov A.O., Trubitsyn A.A. Analytical, Approximate-Analytical and Numerical Methods in the Design of Energy Analyzers. In Advances in Imaging and Electron Physics. Hawkes, Ed. London: Academic Press, 2015, 209p.
Plies E.Electron optics of low-voltage electron beam testing and inspection. Part I: Simulation tools. Advances in Imaging and Electron Physics. 2018. Vol. 205, pp. 139 – 267.
Yavor M. Optics of Charged Particle Analyzers. In Advances in Imaging and Electron Physics. P.W. Hawkes, Ed. London: Academic Press, 2009, 375 p.
Mirsaleh-Kohan N., Robertson W. D., Compton R. N. Electron ionization time-of-flight mass spectrometry: Historical review and current applications. Mass Spectrometry Reviews. 2020. Vol. 27, No. 3, pp. 237–285.
Trubitsyn A.A. A Correlation Method of Search for Higher-Order Angular Focusing. Technical Physics. 2001. Vol.46, pp. 630-631.
