Модель объемных источников тепла в мишенях микрофокусных рентгеновских трубок прострельного типа
DOI:
https://doi.org/10.31489/2021No3/88-92Ключевые слова:
микрофокусная рентгеновская трубка, композитный анод, объемные источники тепла, уравнение ПуассонаАннотация
В работе развит численно-аналитический подход к моделированию тепловых процессов в составном аноде микрофокусных рентгеновских трубок. На первом этапе моделирования с помощью известных аналитических аппроксимаций строится функция распределения объемных источников тепла. На втором этапе эта функция используется при решении стационарной краевой задачи с уравнением Пуассона методом конечных элементов. С помощью предложенной методики проведена адекватная оценка максимальной мощности трубки с W-Be анодом прострельного типа.
Библиографические ссылки
"1 Hemberg O., Otendal M., Hertz H. M. Liquid-metal-jet anode electron-impact X-ray source. Applied Physics Letters. 2003, Vol. 83, No. 7, pp. 1483-1485.
Trubitsyn A.A., Grachev E.Yu., Kozlov E.A. High-power x-ray tube for micro computer tomography. Journal of Physics: Conf. Series. 2019, Vol. 1164, pp. 012022-1 – 012022.
Trubitsyn A.A., GrachevE.Yu., Kozlov E.A., Shugayeva T.Zh. Development of High Power Microfocus Tube. Eurasian Physical Technical Journal. 2021, Vol.18, No. 1(35), pp. 43-50.
Pozdeeva T.Yu., Smetkin A.A.Monte Carlo simulation of the interaction of an electron beam with matter.Mashinostroyeniye.2017, No. 2, pp. 7-21. [in Russian]
Aamir Ihsan, Sung Hwan Heo, Sung Oh Cho. Optimization of X-ray target parameters for a high-brightness microfocus X-ray tube. Nucl.Instr. and Meth.in Phys. Res. B. 2007, Vol. 264, pp. 371 – 377.
Lukyanov F.A., Rau E.I., Sennov R.A. Depth of path of primary electrons, spreading of an electron beam and spatial resolution in electron probe studies. Izvestia RAN. Physical series. 2009, Vol. 73, No. 4, pp. 463 – 472. [in Russian]
Amrastanov A.N., Ginzgeimer S.A., Stepovich M.A., Filippov M.N. On one possibility of mathematical modeling of the thermal effect of a sharply focused electron beam on a homogeneous semiconductor. Izvestia RAN. Physical series. 2016, Vol. 80, No. 10, pp.1448-1452. [in Russian]
Kozlov E., Trubitsyn A., Fefelov A., Kirushin D. “Computer Simulation of Influence the Interaction Region Electrons at the Maximum Temperature in the Target”. Proc. of the 9th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO 2020), Budva, Montenegro, June 2020. Article number 9134114.
"
